מכשיר תהודה פרומגנטית למיקרוגל LADP-4
ניסויים
1. התבונן בתופעות תהודה פרומגנטית במיקרוגל של חומרים פרומגנטיים.
2. מדוד את רוחב קו התהודה הפרומגנטית (ΔH) של חומרי פריט במיקרוגל.
3. למדוד את ה-Lande'sg-גורם של פריט במיקרוגל.
4. למד כיצד להשתמש במערכת ניסויית מיקרוגל.
מפרטים
| מערכת מיקרוגל | |
| לִטעוֹם | 2 (מונו-גביש ופולי-גביש, אחד כל אחד) |
| מד תדר מיקרוגל | טווח: 8.6 GHz ~ 9.6 GHz |
| מידות מוליך גל | פנימי: 22.86 מ"מ × 10.16 מ"מ (EIA: WR90 או IEC: R100) |
| אלקטרומגנט | |
| מתח כניסה ודיוק | מקסימום: ≥ 20 וולט, 1% ± ספרה אחת |
| טווח זרם קלט ודיוק | 0 ~ 2.5 A, 1% ± ספרה אחת |
| יַצִיבוּת | ≤ 1×10-3+5 mA |
| חוזק השדה המגנטי | 0 ~ 450 מ"ט |
| שדה לטאטא | |
| מתח מוצא | ≥ 6 וולט |
| טווח זרם פלט | 0.2 A ~ 0.7 A |
| מקור אות למיקרוגל במצב מוצק | |
| תדירות | 8.6 ~ 9.6 גיגה-הרץ |
| סחיפה בתדר | ≤ ± 5×10-4/15 דקות |
| מתח עבודה | ~ 12 VDC |
| כוח פלט | > 20 mW במצב משרעת שווה |
| מצב פעולה ופרמטרים | משרעת שווה |
| אפנון גל ריבוע פנימי | |
תדירות חזרות: 1000 הרץ
דיוק: ± 15%
עקמת: < ± 20％ יחס גל עומד מתח < 1.2 ממדי מוליך גל: 22.86 מ"מ× 10.16 מ"מ (EIA: WR90 או IEC: R100)
רשימת חלקים
| תיאור | כמות |
| יחידת בקר | 1 |
| אלקטרומגנט | 1 |
| בסיס תמיכה | 3 |
| מערכת מיקרוגל | סט 1 (כולל רכיבי מיקרוגל שונים, מקור, גלאי וכו') |
| לִטעוֹם | 2 (מונו-גביש ופולי-גביש, אחד כל אחד) |
| כֶּבֶל | 1 סט |
| מדריך הדרכה | 1 |
כתבו כאן את הודעתכם ושלחו אותה אלינו
