מכשיר תהודה ספין אלקטרונים במיקרוגל LADP-3

אוסצילוסקופ לא סופק

פרטי מוצר

ניסויים

1. חקור והכר בתופעת תהודה של ספין אלקטרונים.

2. מדוד את גורם ה-g של לנדה של דגימת dpph.

3. למד כיצד להשתמש במכשירי מיקרוגל במערכת EPR.

4. להבין גל עומד על ידי שינוי אורך חלל התהודה ולקבוע את אורך הגל של מוליך הגל.

5. מדוד את פיזור שדה הגל העומד בחלל התהודה וקבע את אורך הגל של מוליך הגל.

מפרט טכני

מערכת מיקרוגל
קצר חשמלי בבוכנה	טווח כוונון: 30 מ"מ
לִטעוֹם	אבקת Dpph בשפופרת (מידות: Φ2×6 מ"מ)
מד תדר מיקרוגל	טווח מדידה: 8.6 גיגה-הרץ ~ 9.6 גיגה-הרץ
מידות מוליך גל	פנימי: 22.86 מ"מ × 10.16 מ"מ (eia: Wr90 או iec: R100)
אלקטרומגנט
מתח קלט ודיוק	מקסימום: ≥ 20 וולט, 1% ± ספרה אחת
טווח ודיוק זרם הקלט	0 ~ 2.5 אמפר, 1% ± ספרה אחת
יַצִיבוּת	≤ 1×10^-3+5 חודשים
עוצמת השדה המגנטי	0 ~ 450 מטר
שדה סריקה
מתח יציאה	≥ 6 וולט
טווח זרם הפלט	0.2 ~ 0.7 א
טווח כוונון פאזה	≥ 180°
פלט הסריקה	מחבר Bnc, פלט גל מסור 1~10 וולט
מקור אות מיקרוגל במצב מוצק
תֶדֶר	8.6 ~ 9.6 גיגה-הרץ
סחף תדרים	≤ ± 5×10^-415 דקות
מתח עבודה	~ 12 וולט DC
הספק פלט	> 20 מגה-וואט במצב אמפליטודה שווה
מצב פעולה ופרמטרים	משרעת שווה
	אפנון גל מרובע פנימי, תדר חזרה: 1000 הרץ דיוק: ± 15% הטיה: < ± 20％

מידות מוליך גל	פנימי: 22.86 מ"מ × 10.16 מ"מ (eia: Wr90 או iec: R100)