LCP-6 ערכת הפרעות, עקיפה וקיטוב - דגם משופר
ניסויים
בנו מדי אינטרפרומטרים והתבוננוהַפרָעָהדפוסים
בנו אינטרפרומטר של מיכלסון ומדדו את מקדם השבירה של האוויר
בנו אינטרפרומטר של Sagnac
בנו אינטרפרומטר מאך-זהנדר
הגדר דיפרקציה של Fraunhofer ומדוד את התפלגות העצימות
עקיפה של Fraunhofer דרך חריץ יחיד
עקיפה של Fraunhofer דרך פלטה מרובה חריצים
עקיפה של Fraunhofer דרך צמצם עגול יחיד
עקיפה של Fraunhofer דרך סורג שידור
הגדר דיפרקציה של Fresnel ומדוד את התפלגות העצימות
עקיפה של פרנל דרך חריץ יחיד
עקיפה של פרנל דרך צלחת רב-חריץ
עקיפה של פרנל דרך צמצם עגול
עקיפה של פרנל מעבר לקצה ישר
למדוד ולנתח את מצב הקיטוב של קרני אורמדידת זווית של ברוסטר של זכוכית שחורה אימות מחקר Law Function של Malus של צלחת חצי גל מחקר פונקציה של לוח רבע גל: אור מקוטב מעגלי ואליפטי
רשימת חלקים
| תיאור | מפרט/חלק מס' | כמות |
| He-Ne לייזר | LTS-10 (>1.5 mW@632.8 nm) | 1 |
| שלב המדידה הרוחבית | טווח: 80 מ"מ;דיוק: 0.01 מ"מ | 1 |
| בסיס מגנטי עם מחזיק עמוד | LMP-04 | 3 |
| מחזיק מראות דו צירים | LMP-07 | 2 |
| מחזיק עדשה | LMP-08 | 2 |
| מחזיק לצלחת | LMP-12 | 1 |
| מסך לבן | LMP-13 | 1 |
| מהדק בר מתכוונן בצמצם | LMP-19 | 1 |
| חריץ מתכוונן | LMP-40 | 1 |
| מחזיק צינור לייזר | LMP-42 | 1 |
| גוניומטר אופטי | LMP-47 | 1 |
| מחזיק מקטבים | LMP-51 | 3 |
| מפצל קרניים | 50:50 | 2 |
| מַקטֵב | 2 | |
| צלחת חצי גל | 1 | |
| צלחת רבע גל | 1 | |
| יריעת זכוכית שחורה | 1 | |
| מראה שטוחה | Φ 36 מ"מ | 2 |
| עֲדָשָׁה | f ' = 6.2, 150 מ"מ | 1 כל אחד |
| סָרִיג | 20 ליטר/מ"מ | 1 |
| צלחת מרובה חריצים ורב חורים | חריץ בודד: 0.06 ו-0.1 מ"מ חריץ מרובה: 2, 3, 4, 5 (רוחב חריץ: 0.03 מ"מ; ממרכז למרכז: 0.09 מ"מ) חורים עגולים: קוטר: 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.5 מ"מ ריבוע חורים: אורך: 0.05, 0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.5 מ"מ | 1 |
| מסילה אופטית | 1 מ';אֲלוּמִינְיוּם | 1 |
| מנשא אוניברסלי | 2 | |
| נשא תרגום X | 2 | |
| ספק תרגום XZ | 1 | |
| תא אוויר עם מד | 1 | |
| מונה ידני | 4 ספרות, סופר 0 ~ 9999 | 1 |
| מגבר זרם צילום | 1 |
הערה: שולחן אופטי מנירוסטה או קרש לחם (≥900 מ"מ x 600 מ"מ) נדרש לשימוש עם ערכה זו.
